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能谱仪简介_能谱仪个人资料_能谱仪微博

2016-11-30 15:18:45 科学百科 阅读 2 次

性能指标/能谱仪 编辑

探头:一般为Si(Li)锂硅半导体探头

探测面积:几平方毫米

分辨率(MnKa):~133eV

探测元素范围:Be4~U92

产品介绍/能谱仪 编辑

能谱仪
能谱仪1.探测器:

a.有效晶体面积:10mm2,30mm2

b.FET配置:集成于SDD芯片内

c.分辨率:优于127eV,分辨率测试条件:100,000CPS

d.技术特点:可工作于更短的时间常数(AmpTime)或更高的计数率而分辨率不下降

适应对象:几乎所有SEM,钨灯丝或场发射。性能良好,可以满足所有常规分析需要,性价比高。

2. 数字脉冲处理电子学 :这是能谱采集与数字化处理的核心,Genesis Apex采用专门为SDD能谱探测器设计的DPP III数字脉冲处理系统,可处理的最大输入计数率从500,000CPS提高到> 1,000,000CPS,输出计数率从100,000CPS提高到350,000CPS。

测器原理/能谱仪 编辑

当光子进入检测器后,在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),因此由一个X射线光子造成的空穴对的数目N=△E/ε。入射X射线光子的能量越高,N就越大。

利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉冲,电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器,脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数,这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。

使用范围/能谱仪 编辑

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;

2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;

3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如:金属化膜表面镀层的检测;

4、金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域; 

5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

主要特点/能谱仪 编辑

能谱仪
能谱仪1.最新设计的探头,能保证轻元素端有更好的分辨率。

2.设计的DPP III数字脉冲处理系统,可处理的最大输入计数率从500,000CPS提高到> 1,000,000CPS,输出计数率从100,000CPS提高到350,000CPS。

3.增强的Genesis 6 分析软件:保留Genesis原来的特点,如HPD可见峰剥离、SEC因子提高轻元素的定量分析精度、全谱面分布和元素侦探器(Element Detective)、ViP低真空分析校正等外,新增强的功能包括:

EXpertID——元素识别的一个创新性的新标准,克服了传统的“基于规则”的峰识别技术准确识别重叠峰或弱小能谱峰的困难,运用了谱线之间物理关联的高级理念,同时结合传统的规则逻辑算法,就象一个物理专家一样帮助您进行复杂的峰识别,从而确保Peak ID的准确性。

SnapShot: 按照用户自定义的时间间隔自动采集能谱来研究电子束与试样的相互作用;

自动时间常数Auto:根据实验条件自动选取最价时间常数。